碳化硅外观稳定性分析

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.表面缺陷：划痕，裂纹，崩边，孔洞，凹陷。

2.颜色一致性：颜色偏差，色斑，色差分布，局部变色。

3.光泽度稳定：光泽值，光泽均匀性，光泽衰减。

4.表面清洁度：污染物附着，颗粒残留，油污痕迹。

5.边缘完整性：边缘崩裂，倒角一致性，边缘缺口。

6.尺寸保持：长度变化，厚度变化，平整度变化。

7.表面粗糙度：粗糙度参数，表面均匀性，局部突起。

8.纹理一致性：纹理分布，纹理深浅，纹理均匀性。

9.气孔特征：气孔数量，气孔尺寸，气孔分布。

10.表面稳定性：外观老化，局部脱落，表面变化速率。

11.涂层完整性：涂层脱落，涂层起泡，涂层裂纹。

12.批次一致性：批内差异，批间差异，外观一致性评估。

检测范围

碳化硅单晶片、碳化硅陶瓷片、碳化硅基片、碳化硅晶圆、碳化硅散热片、碳化硅耐磨片、碳化硅密封环、碳化硅衬底、碳化硅基材、碳化硅薄片、碳化硅抛光片、碳化硅结构件、碳化硅涂层件、碳化硅磨损件、碳化硅模具件

检测设备

1.表面成像系统：获取表面整体图像用于缺陷识别与记录。

2.显微观察仪：放大观察细微裂纹与微小缺陷形貌。

3.色差测量仪：量化颜色偏差与颜色一致性指标。

4.光泽度测量仪：测定表面光泽值与光泽稳定性变化。

5.粗糙度测量仪：获取表面粗糙度参数与均匀性数据。

6.尺寸测量仪：测量外形尺寸与尺寸保持变化。

7.轮廓测量仪：分析表面轮廓与局部凸起凹陷。

8.洁净度检测装置：评估表面污染物与颗粒残留情况。

9.缺陷分析软件：对缺陷类型与分布进行统计与判读。

10.稳定性试验装置：模拟环境作用下外观变化趋势。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质